关于DDR4信号质量测试 DDR4-DRAM的工作原理分析
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发布时间:2024-09-27 16:24
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时间:2024-10-16 06:21
DDR4-DRAM,作为广泛应用于电子系统架构中的RAM存储器,融合了存储器、DRAM和DDR4三个关键词。存储器,作为数据的存储单元,其基本功能在于寻址、读写数据并保存数据。这一过程类似于日常生活中的酸奶存储,通过“放”、“找”、“吃”三个动作来形象地描述存储器的工作原理。
DRAM,即动态随机访问存储器,以其“随机”特性在不同位置灵活存取数据,同时“动态”特性要求不断补充电能以维持数据存储。尽管DRAM在数据保存方面相对耗能,但在电路设计上,其结构比静态RAM(SRAM)更为简单,因此在现代存储技术中占据了重要地位。
DDR,全称为Double Data Rate,代表双倍速率技术,广泛应用在DRAM上,使得数据读写速度提高一倍,从而显著提升了存储性能。DDR4-DRAM不仅支持双数据读取,还具备随机位置存取的能力,是*DDR技术的代表。
在DDR4信号质量测试中,我们关注的是物理层信号测试的新要求。DDR4规范中提出了包括DQ眼图模板测试、抖动分析、电气特性测试和时序测试在内的全面测试要求。相比于DDR3,DDR4在抖动测试中引入了更实际的考量,将随机抖动和确定性抖动分开,更全面地评估信号质量。同时,DDR4规范要求进行DQ输入接收端的眼图模板测试,以更准确地评估信号完整性。
DDR4信号完整性测试面临的主要挑战是速率提升与信号电压降低,这要求测试技术具备更高的灵敏度。DDR4规范定义的所有测试都基于BGA或DIMM的管脚,但由于实际探测难度,往往需要采用中间探测技术或虚拟探测技术,以获取更准确的测试结果。通过使用虚拟探测技术,如Virtual Probe,可以有效去除信号反射,提供更精确的信号波形。
DDR测试点选取的一般原则是靠近CPU端读取信号,靠近RAM端写入信号,以减少走线对信号的衰减和反射影响。探头接入点选择在接收端,可以有效减少多次反射对信号完整性的影响。
此外,DDR4信号完整性测试案例展示了测试项目的实施、测试设备与标准的应用以及测试结果的分析。通过案例,可以直观地了解DDR4信号完整性测试的流程与方法,进一步验证DDR4-DRAM的性能。
在深入探讨DDR4-DRAM时,我们还注意到核心频率的重要性。核心频率作为内存电路的基础震荡频率,对内存的性能至关重要,但近年来其进步有限。内存的速度提升主要依赖于技术手段的优化,而非核心频率的显著增加。因此,内存真正的工作频率是核心频率,时钟频率与数据频率均在此基础上放大得到。
内存延迟参数也是内存性能的重要考量因素,包括CL、tRCD、tRP和tRAS等。这些参数直接影响内存的响应速度,而内存延迟周期的计算方法影响了我们对内存性能的直观感受。随着核心频率的相对稳定,延迟周期看似增加,但实际上,这更多反映了技术评估方法的变化,而非真实性能的退步。
本文旨在通过分析DDR4-DRAM的工作原理、信号质量测试和内存性能参数,为读者提供一个全面、深入的理解,进而帮助用户在设计和使用相关硬件时做出更为明智的决策。