ir21271检测原理
发布网友
发布时间：2022-05-20 00:58
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热心网友
时间：2023-10-21 14:37
CS 脚即是用来检测电流的。检测电路有一段间隙时间以确定在器件开通时 CS 不被误触发（在紧接输出变高后的一段与间隙时间相等的时间里，标么值为 750nS，IC 最初忽略 CS 脚上的电压）。过了这段间隙，如果 CS 上电压还在开启电压之上，IC 就关掉输出，置 FAULT 端为低（注意：FAULT 端为漏极开路输出，所以是低有效）。当输入被关掉，FAULT 信号被清掉，IC 被复位。如果过流依然存在，对于接下来的有效输入信号 IC 将重复上述动作。因此过流保护是一个周期一个周期重复的。
热心网友
时间：2023-10-21 14:38
起初用于IGBT，用来检测由于过流而过饱和的 IGBT 的电压。这就是说，它也可以用于MOSFET（MOSFET在概念上属于“绝缘栅极场效晶体管”（Insulated-Gate Field Effect Transistor, IGFET），而IGFET的栅极绝缘层有可能是其他物质而非MOSFET使用的氧化层。有些人在提到拥有多晶硅栅极的场效晶体管元件时比较喜欢用IGFET，但是这些IGFET多半指的是MOSFET。）。对于 MOSFET，原理相似，因为过载时 FET 上的电压将会显著增加。
ir21271检测原理
检测电路有一段间隙时间以确定在器件开通时 CS 不被误触发（在紧接输出变高后的一段与间隙时间相等的时间里，标么值为 750nS，IC 最初忽略 CS 脚上的电压）。过了这段间隙，如果 CS 上电压还在开启电压之上，IC 就关掉输出，置 FAULT 端为低（注意：FAULT 端为漏极开路输出，所以是低有效）。...
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