el检测出的晶体硅光伏组件的常见缺陷有哪些

发布网友发布时间：2022-04-24 20:17

共3个回答

热心网友时间：2022-04-27 22:28

LX-Z200可检测缺陷晶硅组件缺陷类型包括

· 隐裂/碎片/断栅/黑心/黑边/短路/烧结网纹/
材料缺陷/边缘过刻/低效率片/失配/衰减/PID…
· 高低电流测试功能
· 可实现0.1A至10A不同电流成像

望采纳！

热心网友时间：2022-04-27 23:46

主要是检测裂痕和内部缺陷

热心网友时间：2022-04-28 01:20

裂纹、破片、断栅、黑心、黑边、明暗片...

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