高二物理关于薄膜干涉问题求解:

2*n*d=k*波长+波长/2 所以，最小d d=（波长/2）/2n =5000/（2*2*1.38）=906A，选D

目前有许多椭偏仪可以用于测量纳米薄膜的厚度，其中一些最精确、功能最强大的椭偏仪可能包括：1. EIS01成像光谱椭偏仪：这是一款由美国Angstrom公司开发的椭偏仪，它具有高精度、高分辨率和广泛的测量范围，可以用于测量纳米薄膜的厚度和折射率。该椭偏仪还具有椭圆偏振和光谱检测功能，可以提供更多的信息。2. ORMI 640纳米压痕仪：这是一款由美国Artech Scientific公司开发的椭偏仪，它具有非常高的分辨率和精度，可以用于测量纳米薄膜的厚度和折射率。它还具有纳米压痕功能，可以提供关于纳米薄膜形状和大小的信息。3. CoQ nano 1D椭偏仪：这是由…就要求测量精度高，功能强大的椭偏仪而言。推荐下椭偏行业最前沿的双消光式旋转补偿器设计的穆勒矩阵椭偏仪。一次设置参数就可以数秒内完成16个参数的测量，特别适用于各向异性的材料的测量。好像只有武汉颐光科技有限公司的穆勒矩阵椭偏ME-l 和...

1, 不涉及"能级"吧, 没有凹陷的情况下, 为均匀干涉条纹, 各条纹平行且距离相等, 假定为 d 为叙述方便我们假定平面上, 两个等倾平面相交于直线 y, 与 y 垂直, 作一轴线 x, 方向指向光程差增大的方向 一个区域凹陷, 那么在开始凹陷的部分, 光程差加大, 但不要光看光程差, 要看光程差随 x...

首先，需要明白光程的定义，光程等于介质折射率乘以光在介质中传播的路程，所以光程差就是两个不同光程的差值 如果不加劈尖薄膜，光程差为（r2-r1）n，这里n指的是空气的折射率，取值为1，所以就变成r2-r1 当加入劈尖薄膜后，光路2通过的光程为r2·n（空气折射率为1 省略）+e·n（薄膜折射率） ...

2.干涉纹向劈形尖的那段弯曲意味着原本应该出现某一级（即K的值）干涉条纹的地方已被更高级次的干涉条纹所代替，而干涉条纹的级次越高，对应处的薄膜厚度越大，所以平板上该处应向下凹。3.增透膜厚的原理是使反射光干涉减弱，根据能量守恒反射光减弱，透射光就该增强。而要使反射光减弱就要使从膜上...

薄膜干涉公式推导原理：由于折射率的不同，光波会被薄膜的上界面和下界面分别反射，形成两列相干光。

薄膜干涉：由薄膜上、下表面反射(或折射)光束相遇而产生的干涉．薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射振动分出，是相干光，属分振幅干涉。若光源为扩展...

干涉法检查平整度中凹凸情况的两种判定方法： 1．基本方法如图甲所示，两板之间形成一层空气膜，用单色光从上向下照射，入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波，形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的，得到的干涉图样必是等间距的。如果某处凹下去，则对应亮纹(或暗纹)提前出现，如图乙所示；如果某处...

楼主既然知道是反射光的，那么前膜光线路程为从Q到A到人眼，后膜光线路程为Q到A到B到A再到人眼，所以是2倍

一般会在镜片上渡膜。 绿膜是比蓝膜和红膜更高级和复杂的膜系,增透通带更宽和平坦,增透谷点在可见光谱中央(所以显绿色)。 从使用角度上说,绿膜镜的对比和色彩还原好于其他。取四分之一波长就是为了起到减反射作用，使得入射光和反射光相差二分之一的相位，相互叠加。减少反射。

我认为光的能量应有两种：光的频率和光的强度。薄膜干涉若是单色光入射，所有光子频率一致，能量相同；光强为更亮处的更强（废话）。复色光入射，各频率光各自发生干涉互不干扰 至于明暗相间条纹是光的干涉特有现象，由光的物理本质（电磁波）决定，其实是以衍射为基础的（自认为），与具体光的能量没...