Zeta电位仪厂家

发布网友发布时间：2024-05-15 13:27

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热心网友时间：2024-08-24 14:48

材料粒径是影响众多产品性质的关键因素，如调味剂的口感及混凝土的结构牢固性。因此，测量范围广至1纳米至30毫米、浓度可达1 ppm到50 vol%、可测量1微米以上样品形状的HORIBA粒径分析仪，适用于从食品工业到建筑行业等多个应用领域。这一设备能够应对各种形式的样品，包括干粉、微升级量的珍贵悬浮液。

纳米颗粒和胶体悬浮液的稳定性很大程度上依赖于颗粒表面电荷。HORIBA的Zeta电位分析仪用于评估或监测诸如pH值等对静电稳定性的影响，以及确定添加凝结剂时对表面电荷的作用。这对于从废液中去除胶体颗粒具有重要意义。

纳米颗粒和胶体颗粒浓度是蛋白质聚集和病毒颗粒浓度等重要参数。HORIBA采用配备三个同步激光器的纳米颗粒追踪分析仪（NTA）能够为这种挑战性的测量提供前所未有的准确性。

HORIBA LA-960V2激光粒度分析仪继承了其一贯的优秀设计，引领行业发展，具备直观软件、独特附件和卓越性能，是LA系列仪器的创新升级。可从美萨科技(苏州)有限公司（messa.com.cn）购买。

HORIBA LA-350激光粒度分析仪，体积小巧、性能高、价格亲民，广受欢迎于浆料、矿物、造纸等领域的实验室。该设备基于LA系列分析仪的先进光学设计，具有高性能、易操作、维护成本低以及效益高的优势。

HORIBA ViewSizer 3000纳米颗粒追踪分析仪采用多波长激光，能对外泌体、病毒等纳米材料样品进行完整、细致的分析。它可在不同激光的强弱之间自动调整，确保测量结果的准确性，同时有效减少清洁时的交叉污染，提供更精确的数据。

HORIBA的nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪集成三重功能，包括粒径、Zeta电位及分子量的测量，助力研究者深入纳米世界，实现纳米级材料的高质量表征。

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300离心式粒度分析仪通过离心方法提供高达30,000g的离心力，用于精确测量10 nm至40 μm的粒度分布，适用于各种样品。