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怎样判断光耦的好坏111

发布网友 发布时间:2023-11-19 10:12

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5个回答

热心网友 时间:2024-10-16 20:35

方法:用数字万用表的PN结测量端,红表笔“电池+极”接光耦的“1”端,黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端(即使光耦的发光二极管正向导通),用另一电表测量“3”“4”端电阻,断开或接通输入端(发光二极管端),输出端电阻应有大幅度变化,说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。

在彩电,显示器等开关电源维修中如果光耦损坏,一定要用线性光耦代换。 

常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有:TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。 

常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不适合用于开关电源中的,因为这4种光耦均属于非线性光耦。

扩展资料:

光电耦合器分为两种:一种为非线性光耦,另一种为线性光耦。

非线性光耦的电流传输特性曲线是非线性的,这类光耦适合于开关信号的传输,不适合于传输模拟量。常用的4N系列光耦属于非线性光耦。

线性光耦的电流传输特性曲线接近直线,并且小信号时性能较好,能以线性特性进行隔离控制。常用的线性光耦是PC817A—C系列。

开关电源中常用的光耦是线性光耦。如果使用非线性光耦,有可能使振荡波形变坏,严重时出现寄生振荡,使数千赫的振荡频率被数十到数百赫的低频振荡依次为号调制。由此产生的后果是对彩电,彩显,VCD,DCD等等,将在图像画面上产生干扰。

同时电源带负载能力下降。在彩电,显示器等开关电源维修中如果光耦损坏,一定要用线性光耦代换。常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有:LP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不适合用于开关电源中的,因为这4种光耦均属于非线性光耦。

由于光电耦合器的品种和类型非常多,在光电子DATA手册中,其型号超过上千种,通常可以按以下方法进行分类:

⑴按光路径分,可分为外光路光电耦合器(又称光电断续检测器)和内光路光电耦合器。外光路光电耦合器又分为透过型和反射型光电耦合器。

⑵按输出形式分,可分为:

a、光敏器件输出型,其中包括光敏二极管输出型,光敏三极管输出型,光电池输出型,光可控硅输出型等。

b、NPN三极管输出型,其中包括交流输入型,直流输入型,互补输出型等。

c、达林顿三极管输出型,其中包括交流输入型,直流输入型。

d、逻辑门电路输出型,其中包括门电路输出型,施密特触发输出型,三态门电路输出型等。

e、低导通输出型(输出低电平毫伏数量级)。

f、光开关输出型(导通电阻小于10Ω)。

g、功率输出型(IGBT/MOSFET等输出)。

⑶按封装形式分,可分为同轴型,双列直插型,TO封装型,扁平封装型,贴片封装型,以及光纤传输型等。

⑷按传输信号分,可分为数字型光电耦合器(OC门输出型,图腾柱输出型及三态门电路输出型等)和线性光电耦合器(可分为低漂移型,高线性型,宽带型,单电源型,双电源型等)。

⑸按速度分,可分为低速光电耦合器(光敏三极管、光电池等输出型)和高速光电耦合器(光敏二极管带信号处理电路或者光敏集成电路输出型)。

⑹按通道分,可分为单通道,双通道和多通道光电耦合器。

⑺按隔离特性分,可分为普通隔离光电耦合器(一般光学胶灌封低于5000V,空封低于2000V)和高压隔离光电耦合器(可分为10kV,20kV,30kV等)。

⑻按工作电压分,可分为低电源电压型光电耦合器(一般5~15V)和高电源电压型光电耦合器(一般大于30V)。

光耦合器的主要优点是单向传输信号,输入端与输出端完全实现了电气隔离,抗干扰能力强,使用寿命长,传输效率高。它广泛用于电平转换、信号隔离、级间隔离、开关电路、远距离信号传输、脉冲放大、固态继电器(SSR)、仪器仪表、通信设备及微机接口中。

由于光电耦合器的输入阻抗与一般干扰源的阻抗相比较小,因此分压在光电耦合器的输入端的干扰电压较小,它所能提供的电流并不大,不易使半导体二极管发光;由于光电耦合器的外壳是密封的,它不受外部光的影响;光电耦合器的隔离电阻很大(约1012Ω)、隔离电容很小(约几个pF)所以能阻止电路性耦合产生的电磁干扰。

线性方式工作的光电耦合器是在光电耦合器的输入端加控制电压,在输出端会成比例地产生一个用于进一步控制下一级的电路的电压。

线性光电耦合器由发光二极管和光敏三极管组成,当发光二极管接通而发光,光敏*管导通,光电耦合器是电流驱动型,需要足够大的电流才能使发光二极管导通,如果输入信号太小,发光二极管不会导通,其输出信号将失真。在开关电源,尤其是数字开关电源中。

采用一只光敏三极管的光耦合器,CTR的范围大多为20%~300%(如4N35),而PC817则为80%~160%,达林顿型光耦合器(如4N30)可达100%~5000%。这表明欲获得同样的输出电流,后者只需较小的输入电流。因此,CTR参数与晶体管的hFE有某种相似之处。线性光耦合器与普通光耦合器典型的CTR-IF特性曲线。

普通光耦合器的CTR-IF特性曲线呈非线性,在IF较小时的非线性失真尤为严重,因此它不适合传输模拟信号。线性光耦合器的CTR-IF特性曲线具有良好的线性度,特别是在传输小信号时,其交流电流传输比(ΔCTR=ΔIC/ΔIF)很接近于直流电流传输比CTR值。因此,它适合传输模拟电压或电流信号,能使输出与输入之间呈线性关系。这是其重要特性。

以下为光电耦合器的常用参数:

1 反向电流IR:在被测管两端加规定反向工作电压VR时,二极管中流过的电流。

2 反向击穿电压VBR:被测管通过的反向电流IR为规定值时,在两极间所产生的电压降。

3 正向压降VF:二极管通过的正向电流为规定值时,正负极之间所产生的电压降。

4 正向电流IF:在被测管两端加一定的正向电压时二极管中流过的电流。结电容CJ:在规定偏压下,被测管两端的电容值。

5 反向击穿电压V(BR)CEO:发光二极管开路,集电极电流IC为规定值,集电极与发射集间的电压降。

6 输出饱和压降VCE(sat):发光二极管工作电流IF和集电极电流IC为规定值时,并保持IC/IF≤CTRmin时(CTRmin在被测管技术条件中规定)集电极与发射极之间的电压降。

7 反向截止电流ICEO:发光二极管开路,集电极至发射极间的电压为规定值时,流过集电极的电流为反向截止电流。

8 电流传输比CTR:输出管的工作电压为规定值时,输出电流和发光二极管正向电流之比为电流传输比CTR。

9 脉冲上升时间tr,下降时间tf:光耦合器在规定工作条件下,发光二极管输入规定电流IFP的脉冲波,输出端管则输出相应的脉冲波,从输出脉冲前沿幅度的10%到90%,所需时间为脉冲上升时间tr。从输出脉冲后沿幅度的90%到10%,所需时间为脉冲下降时间tf。

10 传输延迟时间tPHL,tPLH:从输入脉冲前沿幅度的50%到输出脉冲电平下降到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPHL。从输入脉冲后沿幅度的50%到输出脉冲电平上升到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPLH。

11 入出间隔离电容CIO:光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。

12 入出间隔离电阻RIO:半导体光耦合器输入端和输出端之间的绝缘电阻值。

13 入出间隔离电压VIO:光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值.

参考资料:百度百科-光耦

热心网友 时间:2024-10-16 20:36

详细介绍了开关电源电路中常见光耦的用途以及测量和好坏判断,是学习电子电路必修掌握的元件知识,建议大家收藏和学习

热心网友 时间:2024-10-16 20:36

判断光耦的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

1、比较法拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法,检测电路如图1所示。检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e插孔内,此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔,e极{4}脚接红表笔,并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化,来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例,检测电路如图2所示。将万用表置于RX1k电阻挡,两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V的电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端接EL817的{1}脚,负极端碰接{2}脚,或者正极端碰接{1}脚,负极端接{2}脚,这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动,说明光耦是好的,如果不摆动,则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大,表明光电转换灵敏度越高。

扩展资料:

光耦合器(opticalcoupler equipment,英文缩写为OCEP)亦称光电隔离器或光电耦合器,简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件,通常把发光器(红外线发光二极管LED)与受光器(光敏半导体管)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线,受光器接受光线之后就产生光电流,从输出端流出,从而实现了“电—光—电”转换。以光为媒介把输入端信号耦合到输出端的光电耦合器,由于它具有体积小、寿命长、无触点,抗干扰能力强,输出和输入之间绝缘,单向传输信号等优点,在数字电路上获得广泛的应用。

光耦

热心网友 时间:2024-10-16 20:37

1、先用万用表欧姆档检测发光二极管,反正测量发光二极管的二极,如一次测量值较小,另一次测量阻值非常大,说明是一个发光二极管且其PN结是好的,如反正测发光二极管的二极,其阻值都=0,或阻值都非常大,说明发光二极管的二极已击穿或已断路(该件已坏)。如反正测发光二极管的二极,其阻值都较小,有可能是二只反并联的二极管。再用表检测光电三极管的二极,如测得阻值=0或很小,说明此件已坏。
2、通电检查:通过上述检查不能确定此间已损坏时,可用二个电阻(如1KΩ)按上图连接,开关未闭合时测R2的电压应=0,合上开关K,电压指示=12V时,说明此间是好的。如仍指示=0,再用电压表测量二极管二端电压,如二极管二端电压=10V,可反接二极管的二极,再测二极管的电压还=10V,说明此件已坏。如电压值1.5~2V左右,说明二极管已导通,三极管接反了。可将三极管的二极反接,再测R2电压,如指示=10V,说明此管是好的。如仍指示=0V,说明此管是坏的。

热心网友 时间:2024-10-16 20:38

方法:用数字万用表的PN结测量端,红表笔“电池+极”接光耦的“1”端,黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端(即使光耦的发光二极管正向导通),用另一电表测量“3”“4”端电阻,断开或接通输入端(发光二极管端),输出端电阻应有大幅度变化,说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。
希望各位发表高见。

在彩电,显示器等开关电源维修中如果光耦损坏,一定要用线性光耦代换。
常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有:TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。
常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不适合用于开关电源中的,因为这4种光耦均属于非线性光耦。
怎样检查光耦的好坏?

检查光耦(光电耦合器)的好坏主要有以下几种方法:外观检查:检查光耦的外观是否有损坏或裂纹等。使用万用表检测:用万用表测量光耦内部二极管及三极管的正反向电阻值,如果与正常值相差过大,说明光耦可能已损坏。例如以PC111光耦检测为例, 检测时将光耦内接二极管的+端 {1}脚和-端 {2}脚分别插入数...

光耦合器检测方法

判断光耦合器好坏的方法有多种。首先,可以通过测量内部二极管和三极管的正反向电阻来初步评估,如果阻值与正常光耦有较大差异,可能意味着光耦已经损坏。更精确的方法是使用数字万用表,以PC111光耦为例,通过比较二极管和三极管的光电电流变化,判断光电转换效率和光电转换灵敏度。若指针不动,则说明光耦已...

如何判断光耦好坏(网上收集)

通过观察指针式万用表指针的偏转角度,从而判断光耦的好坏。指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,反之较低。如果表针不动,则说明光耦可能已经损坏。外观检查:检查光耦的外壳是否完整,是否有破损或裂纹等。如果外观有明显的物理损伤,那么光耦可能已经损坏。正常工作电压测试:可以通过测试光耦...

如何判断opa111bm的好坏

用另一电表测量“3”“4”端电阻,断开或接通输入端(发光二极管端),输出端电阻应有大幅度变化,说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。

光电耦合器怎么检测好坏?

判断光耦的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。1. 比较法 拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。2. 数字万用表检测法 下面以PC...

求检测光耦PC410的方法

判断光耦的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。1. 比较法 拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。2. 数字万用表检测法 下面以PC111...

光耦是什么含义

产品检测1、用万用表判断好坏,断开输入端电源,用R×1k档测1、2脚电阻,正向电阻为几百欧,反向电阻几十千欧,3、4脚间电阻应为无限大。1、2脚与3、4脚间任意一组,阻值为无限大,输入端接通电源后,3、4脚的电阻很小。调节RP,3、4间脚电阻发生变化,说明该器件是好的。注:不能用R×10k档,否则导致发射管...

高耦合好还是低耦合好

1、高内聚低耦合,是软件工程中的概念,是判断设计好坏的标准,主要是面向对象的设计,主要是看类的内聚性是否高,耦合度是否低。2、高内聚意思就是支持主体正常运行的各个模块相对独立,相互之间没啥关联,各司其职。比如一台电脑主机,由机箱,CPU,主板,内存,显卡,电源各种部件组成,大家各做各的...

光耦怎么测好坏 光耦如何测好坏

外观检查:先看光耦的外观是否完整,是否有明显的物理损坏,如损坏或裂纹。如果有明显的物理损坏,那么光耦可能已经损坏,需要更换。正常工作电压测试:通过测量光耦的工作电压来判断其是否正常工作。可以用万用表或示波器测量光耦的输入和输出端的电压。如果输入端的电压不能使光耦正常工作,或者输出端的电压...

怎样判断光耦的好坏

方法:用数字万用表的PN结测量端,红表笔“电池+极”接光耦的“1”端,黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端(即使光耦的发光二极管正向导通),用另一电表测量“3”“4”端电阻,断开或接通输入端(发光二极管端),输出端电阻应有大幅度变化,说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流...

判断光耦的好坏又一方法 817b光耦好坏判断 817光耦如何判断好坏 el817光耦好坏判断 pc123光耦判断好坏 如何判断光耦好坏 ps817c光耦怎么测好坏 6n137光耦怎么测好坏 光耦817怎测好坏
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