如何修改tn9红外测温仪的发射率
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发布时间：2022-04-23 13:39
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热心网友
时间：2023-08-30 07:05
0.0.1怎么样修改发射率? (怎么样修改发射率数据到 EEPROM)
警告:误操作可能把 EEPROM 中其他数据被修改，如果破坏了校准数据，会导致整个设备没有办法使用。
1) 红外测温模块校准时的默认发射率是0.95.多数的非金属的发射率接近0.95但是，正常金属的发射率要更低些，必须修改设置发射率对于不同的测试。
2) 通讯格式和怎么从测试设备的通讯模式中读取数据:
ItemCode（项目标志） + HighByte（高字节）+ LowByte低字节 + 检查和(ItemCode+HighByte+LowByte) + CR（结束） , 共 40 时钟和数据).
3) 写发射率到 DUT, 写数据格式和读数据是相同的.
=> “S”+ HighByte(发射率数值) + 04H +CheckSum（检查和）(ItemCode + HighByte + 04H) + CR（结束标志）
发射率数值 =HighByte(hex)/100(dec),
例如: HighByte = 5F(hex)=95(dec) -> emissivity = 95(dec)/100(dec) =0.95.
LowByte data = 04(hex).
4) The trick for write data to DUT is as below
a. 当写数据到DUT时，测试脚需要置浮动。
b. DUT 写数据在40时钟和数据在通讯格式下
c. 在第40个时钟周期后，DUT 把 CLK & DATA 引脚拉高以等待外部CPU写数据到DUT。在第40个时钟周期后，才让外部CPU送第一个时钟在T1周期内。
: 5ms < T1 < 10ms
d. CLK 的频率是 2KHz.
e. 当CLK下降沿出现后，DUT 将锁定数据, 所有，当一个个写时钟下降沿产生前，数据线应该准备好。
5) 例如：
发射率 = 0.95 ==> “S” + 5F(hex) +04(hex) + B0(hex) + CR
发射率=0.80 ==> “S” + 50(hex) + 04(hex) +A7(hex) + CR
6) 怎么才能成功的写发射率.
大约给DUT送完CLK和DATA 5毫秒后，DUT将有3种响应：
a. 如果DUT将把外部CPU已经写如DUT的数据送出(我们成为回送). 这样就表示写发射率成功.
b. 如果DUT 将送出 “S” + FF(hex) +FF(hex) + CheckSum( “S” + FF + FF ) + CR.，这说明DUT发现检查和错误，表明接受数据出错，DUT放弃这些错误的接受数据，你必须重新写。
c. DUT 没有出现以上的反应这说明还没有收完40个时钟,请检查外部CPU控制的时钟和数据。请确认T1时序的正确性
热心网友
时间：2023-08-30 07:05
