发布网友 发布时间:2022-07-21 01:42
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热心网友 时间:2023-10-26 01:29
1、光刻及台面腐蚀造成边缘地区台面畸形,使得玻璃胶填充不良,存在空气隙,造成器件永久失效2、由于工艺监控不良等原因造成台面过腐蚀,加之后续工艺使晶圆内部应力过大而产生形变,故测试探针接触不良而放电1 h3 N8 P9 W" n1 ]. 3 r从图上看这种情况不算严重,第一个因素影响会多一点,建议减少些边缘的数量(尽管会减少产出,对后续封装还是很有好处的,不然边缘黑点多,装片时容易误判而浪费框架,封装厂会叫的!!)这真的很难一下子说明白最好上硬之城看看吧。