芯片功能的常用测试手段或方法几种
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发布时间：2022-11-13 23:26
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时间：2024-11-16 04:49
下面以一种系统芯片的功能测试为例
一、【功能测试平台的构建】
(本设计的功能测试主要采用基于可编程器件建立测试平台。)
“成电之芯”主要有以下几类接口：36位的输入信号总线Input，用来为芯片提供初始输入激励；32位的初始化数据总线Initial_bus，用来为芯片提供DSP核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数；48位的片外缓存数据总线IQ1和IQ2，用于将脉冲压缩的结果传送到片外缓存；28位的求模或取对数输出总线Log_out，用于输出脉冲压缩或滤波运算后的求模或取对数结果；56位的滤波结果输出FIR_I_OUT(28位)、FIR_Q_OUT(28位)，用于输出MTI或MTD处理后的结果；16位的HD数据总线，用于输出DSP核处理后的结果。
根据基于可编程器件建立测试平台的设计思想，功能测试平台的构建方法如下：采用可编程逻辑器件进行输入激励的产生和输出响应的处理；采用ROM来实现DSP核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数的存储；采用SRAM作为片外缓存。基本测试框图如图3所示。
根据“成电之芯”的要求，芯片需要外部提供136 k 32bit的存储空间为其提供脉压系数和滤波系数，同时需要其它的一些存储空间为芯片存储片外的DSP核程序和控制寄存器。
由于做MTD滤波时，每个相参处理间隔的数据量最大为2M深度，所以片外必须准备两片深度为2M，数据宽度为48位的SRAM作为芯片的片外缓存。
除此之外，芯片需要外界输入数据和控制信号，并且需要接收芯片的输出数据。这部分的功能可通过可编程逻辑器件来完成。
通过以上分析，CCOMP芯片功能测试平台选用了两片SST39VF3201来做它的片外初始化存储器、6片GS832018来做它的片外缓存、一片XC3S5000来产生它的时序控制信号以及和外部接口的控制逻辑、两片MT48LC4M32用做它的输出缓存、两片SST39VF3201来做它的输入数据存储器，另外还选用了一个AD和一个DA芯片来实现与外界的数据通信。实现框图如图4所示。
二、【 测试平台的实现】
1软件的实现
根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求，编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。
2 硬件的实现
根据功能测试平台的实现框图进行了原理图和PCB的设计，最后设计完成了一个可对“成电之芯”进行功能测试的系统平台。实物图如图5所示。
