发布网友 发布时间:2022-07-12 22:58
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热心网友 时间:2022-07-12 23:06
当量仪设计或进行测量时,由于量仪的结构*,往往使量仪的测量轴线不能与基淮轴线在同一条直线上,这样就必然会因为不符合阿贝原理而产生理论误差,这种误差,我们通常称之谓阿贝误差,亦称一次误差。 以纵向比长仪为例,如图1所示,由于基淮尺与被侧尺并列,它们不在同一条直线上,即违背了阿贝原则,这时由于显微镜座与导轨之间不可避免地会有间隙,另外导轨本身也存有不直度误差,此时则将引起显微镜1与2之间的偏移,从而产生测量误差△。 从图1可知:△=S·tg甲式中:S—两个显微镜座之间的中心距。 中—显微镜座与导轨之间的相对倾斜角。 由于甲角很小,则tg沪.甲(弧度)因此:△“S·甲 假如我们用此种比长仪测量一米刻线尺寸,如果两个显微镜座之间的中心距S二150毫米,显微镜座与导轨间的相对倾斜角切:10=0.0000485 (弧度),则所引起的测量误差: △=150*10^3*0.0000485=7μm,这样大的测量误差,在精密测量中是不能轻易略去的。