发布网友 发布时间:2022-04-29 17:42
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热心网友 时间:2023-10-10 18:05
XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。 对于块状、板状、圆柱状样品,必须将其磨成一个平面,面积不能小于10*10mm。如果面积太小可以用几块粘贴在一起。 如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向,衍射强度异常,给定性定量分析带来麻烦。因此测试时应该合理选择响应的方向平面。
对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。 对于薄膜样品,需要特别注意薄膜的厚度。由于XRD分析中X射线的穿透能力较强,所以适合比较厚的薄膜样品的分析,X射线测量的膜厚度约20个纳米。